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使用台式扫描电镜拍摄低倍图像方法

1、启动并放入样品，将真空抽至0.01并保持至开按钮常亮后，然后点击开按钮。

2、按照需要设定电压值。并将"光斑直径"调整至"粗"或者"中"，勾选"自适应"按钮，调整"亮度""对比度"，至出现较为明亮的图像。后粗调"聚焦"条，至显示较为清晰的图像，然后将样品台移动到想要拍照的样品上。

3、低倍数下有了较为清晰图像后。将倍数放大至大于要拍摄倍数后（比如要拍摄1000倍，放大至5000或10000），将"平均"点数切换至5，然后将光标放至"聚焦微调"圆钮上，缓慢滚动滚轮，调整至图像清晰位置。然后切换至"镜组配置"，依次调整四个"消像散"条，至图像清晰为止。

用台式扫描电镜拍几千倍的图可根据样品信号强度选择光斑直径中或者细来拍照。

台式扫描电镜进行动态观察

　　在台式扫描电子镜中，成像信息主要是电子信息根据现代电子工业的技术水平，即使是高速变化的电子信息，也能不费吹灰之力地及时接收、处理和储存因此，可以进行一些动态过程观测如果样品室配有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀附件，则可通过电视装置观察相变和断裂强度的动态变化过程。

　　台式扫描电镜观察试样表面形貌

　　从试样表面形貌获得多方面资料，不仅可以利用入射电子与样品相互作用产生的信息进行成像，还可以通过信号处理方法获得各种图像的特殊显示方法，从样品的表面形貌中获得各种信息由于扫描电子图像不是同时记录的，它是由近百万条记录逐个组成的因此，除了观察其表面形貌外，SEM还可以分析其成分和元素通过电子通道花样进行结晶学分析，选择的面积大小可以在10μm到3μm之间。

扫描电子显微镜(scanningelectronmicros

扫描电子显微镜（scanning electron microscope，简称扫描电镜/SEM）的基本组成是透射系统、电子系统、电子收集系统和观察记录系统，以及相关的电子系统。现在公认的扫描电镜的概念是由德国的 Knoll在1935年提出来的，1938年Von Ardenne在投射电镜上加了个扫描线圈做出了扫描透射显微镜（SEM）。

在陶瓷的制备过程中，原始材料及其制品的微观形貌、孔径、晶界和团聚程度将决定其性能。扫描电子显微镜可以清楚地反映和记录这些微观特征。是一种方便、简便、有效的观察和分析样品微观结构的方法。样品无需制备，放入样品室即可直接放大观察；同时，扫描电子显微镜可以实现测试。